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  • Zeta電位儀廠家供應的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。

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    產品價格:1000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2024-02-02
  • BT-Online2在線激光粒度監測與控制系統由測試主機、電腦、取樣系統、回收系統、電路與氣路控制系統、機柜等部分組成。系統可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結果等。通過設定SOP流程系統可在無人值守狀態下自動運行。它在數據異常時系統會自動報警提示,在研磨設備具有信息化控制終端時,本系統還可對研磨系統實施控制,實現粒度監測與控制同步,保證產品粒度穩定。

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    更新日期:2024-02-02
  • Bettersize3000Plus激光/圖像粒度粒形分析儀是一種激光+圖像二和一的粒度粒形分析系統。它的激光散射系統為雙鏡頭斜入射光學系統,成像系統為動態雙路遠心顯微成像系統,可同步進行粒度和粒形分析,實現了一機兩用。Bettersize3000Plus激光圖像粒度粒形分析儀還具有折射率測量技術、自動測試技術、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗技術、顆粒圖像快速識別技術、樣品復配技術等,

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  • Bettersize2600干濕二合一激光粒度分析儀是一種采用百特首.創的正反傅里葉結合光路系統的智能化激光粒度儀。正反傅里葉結合光學系統的最大特點是用單激光束實現了前向、側向和后向散射光信號的全角度接收——這是百特原創的專.利技術。這種技術不僅達到了進口儀器的用多光束技術來擴大散射光角度的效果,還避免了多光束技術造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差

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  • Bettersize2000激光粒度儀是一種采用雙鏡頭技術的一體化激光粒度儀。它的散射光發生與探測系統是由一個大功率光纖半導體激光器、樣品池、兩個高精度的進口透鏡組和兩組光電探測器陣列組成。這種光學系統能在單光束狀態下使前向和后向散射光信號都能被同時有效接收,同時高精度透鏡組保證了即使是很微弱的散射光信號都能有效地匯聚到探測器上,使儀器的量程、重復性、準確性和分辨力等主要指標都達到了國際同類儀器水

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  • BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。

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